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Basler定制視覺方案：聚焦壓印后晶圓表面微缺陷檢測
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在半導體壓印工藝中，壓印后晶圓表面缺陷檢測是保障半導體量產一致性的關鍵環節。隨著器件結構日趨微型化，視覺檢測系統需在高速運動場景下完成微米級缺陷的實時... |
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更新時間：2025-07-04 |
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Basler攜創新視覺方案亮相2025 VisionCon
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5月22日，由雅時國際商訊主辦的VisionCon視覺系統設計技術會議在蘇州圓滿落幕。
本次會議，Basler攜光度立體視覺演示系統與TGV玻璃通孔檢測視覺方案亮相現場，... |
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更新時間：2025-05-22 |
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依托VisualApplets實現更加經濟高效的3D AOI 格雷編碼方案
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面對自動光學檢測(AOI)領域對更高檢測精度、速度和穩定性的需求，基于結構光的Gray Code(格雷編碼)技術為3D AOI提供了新的視覺方案：格雷編碼作為一種用于三維測... |
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更新時間：2024-12-31 |
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速度與精度并重，成本與成像兼顧：Basler 全新高速線掃方案專注提高視覺檢測標準
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在機器視覺領域中，檢測速度和精度始終是衡量設備性能的關鍵指標。Basler全新racer 2 L系列線陣相機，以其卓越的成像速度和創新技術，再次樹立高速視覺檢測的標桿... |
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更新時間：2024-08-23 |
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Basler “視界非凡”全國巡回研討會(蘇州站)圓滿落幕
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7月12日，Basler“視界非凡”全國巡回研討會第二站在江南水鄉蘇州圓滿收官。Basler此次不僅帶來了令人矚目的全新產品，還深入探討了機器視覺解決方案的... |
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更新時間：2024-07-16 |
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Basler ace 2 系列視覺解決方案再加速 – 更高速的CXP-12接口相機
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新品發布
更高速的 ace 2 V面陣相機
產品亮點
01 小機身，高精度
ace 2 V機身精巧，尺寸緊湊(29*29mm)，內嵌Sony Pregius S背照式芯片，并融合全局快... |
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更新時間：2024-07-16 |
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Basler 5GigE視覺產品線
